描述:Thick 800 X熒光光譜儀主要針對(duì)大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測(cè)定,采用上照式,通過三維的移動(dòng)和激光定位,實(shí)現(xiàn)對(duì)尺寸范圍較大部件進(jìn)行鍍層厚度和含量的點(diǎn)測(cè)量.
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